沈陽華儀時代科技有限公司
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產(chǎn)品型號363
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廠商性質(zhì)其他
所 在 地沈陽市
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更新時間:2024-01-24 15:15:17瀏覽次數(shù):146次
聯(lián)系我時,請告知來自 紡織服裝機械網(wǎng)CypherTM高分辨率的快速掃描原子力顯微鏡使用下一代原子力顯微鏡技術來解析這個納米世界我們一直期待能夠有一些真正創(chuàng)新的AFM/SPM新技術誕生,但是過去十幾年里原子力顯微鏡技術出現(xiàn)的只是對舊技術的調(diào)整
CypherTM高分辨率的快速掃描原子力顯微鏡
使用下一代原子力顯微鏡技術來解析這個納米世界
我們一直期待能夠有一些真正創(chuàng)新的AFM/SPM新技術誕生,但是過去十幾年里原子力顯微鏡技術出現(xiàn)的只是對舊技術的調(diào)整?,F(xiàn)在牛津儀器Asylum Research推出的全新的Cypher S原子力顯微鏡小樣品AFM/SPM 。它更加強大、易操控、多功能、模塊化、高分辨率且掃描速度提高20倍以上。
能夠在閉環(huán)條件下實現(xiàn)原子級成像的高分辨原子力顯微鏡
使用小探針高速成像(10秒成像)
高速、低噪音的力學測試
分辨率到達衍射極限的輔助光學系統(tǒng)
全自動激光對探針和下針功能
閉環(huán)原子級分辨率
通過在三個掃描軸上都使用準確的閉環(huán)傳感器確保能夠?qū)崿F(xiàn)高分辯率的準確成像。有了Cypher,您不再為選擇準確的閉環(huán)控制或是低噪音的開環(huán)控制而煩惱。Asylum的第三代納米位置控制系統(tǒng)傳感器 (NPS) 可以為您提供噪音控制水平。使用準確的納米定位器可以提供X、Y和Z軸方向優(yōu)于60pm的準確控制,不僅可以在閉環(huán)條件下獲得原子級別的分辨率,你還能獲得更加準確的測試、定位和納米操縱能力。
SpotOn自動校對激光系統(tǒng)
SpotOn全自動激光耦合系統(tǒng)為您提供簡單的操作。使用Cypher的全電動化激光和光學位置探測器,僅需要輕點鼠標就可以將激光光斑自動對焦到探針和光學位置探測器的中心。
高速度、低噪音的小探針
Cypher系統(tǒng)的激光光斑小可達3μm,允許使用微小探針進行高速輕敲模式成像(10秒成像)。Cypher提供激光定位光斑可以讓您使用10μm以下的探針,這樣就能使您獲得高速的成像和亞皮牛量級的力學測試。
blueDrive 光熱激發(fā)系統(tǒng)
blueDrive光熱激發(fā)系統(tǒng),一款專用于Cypher原子力顯微鏡的配件。blueDrive能讓輕敲模式極為簡化、穩(wěn)定和準確。blueDrive代替了傳統(tǒng)的壓電陶瓷激發(fā)原理,改用藍色激光加熱懸臂梁,使得懸臂梁在空氣和液體中振動響應都很理想,并且使輕敲模式更易操作、性能超群。
從頭到尾的全新設計
Cypher系統(tǒng)的機械設計使其固有的避免了外界振動對系統(tǒng)的影響,不需要外加防震平臺就能實現(xiàn)高精度的測量。一體式的結(jié)構(gòu)設計減小了熱漂移并降低了外部噪音的影響。系統(tǒng)的整體設計使原子級平整的樣品都不會受到周期性噪音的影響。Cypher的尺寸僅有40×42cm極大的節(jié)省了實驗空間。
可更換光源模塊拓寬了掃描模式和應用的選擇。MultiLuxTM光源模塊提供多種不同光斑尺寸的二極管激光器和低相干的SLD光源以支持不同尺寸的探針。不同模塊的更換只需要一分鐘。
高分辨率的上視光路僅受限于光學衍射。用戶可在690×920μm視窗下觀察到亞微米的分辨率(20×物鏡),并可任意的進行縮放和移動位置。系統(tǒng)選用科勒系統(tǒng)進行照明。
Cypher一體式的結(jié)構(gòu)設計減小了熱漂移,提高了成像的穩(wěn)定性。掃描過程中的熱漂移控制較以往的AFM提高10倍以上。
售后服務:AsylumResearch為Cypher提供業(yè)內(nèi)長的兩年免費質(zhì)保,兩年之內(nèi),產(chǎn)品質(zhì)量出現(xiàn)任何問題我們都將免費進行維修或更換。
應用實例
Cypher系統(tǒng)中,你可以進行在其他AFM都無法想象的研究。下面是Cypher探究納米世界的幾個具體應用例子:
方解石樣品原子缺陷的重復掃描,掃描范圍20nm
DNA樣品的高分辨率掃描,能偶區(qū)分出DNA雙螺旋的大小溝。掃描范圍150×75nm
DNA拉伸力譜,pN量級分辨率
閉環(huán)條件Dual AC模式對collagen的成像
Bacteriorhodopsin胞外表面的閉環(huán)輕敲模式成像,掃描范圍5nm
Cypher系統(tǒng)功能模式
接觸模式:利用探針彎曲反饋進行成像??梢垣@得高度,反饋和橫向力信號
輕敲模式(AC mode):帶有Q-control技術的振幅反饋成像??稍诖髿饣蛞合喹h(huán)境下獲得高度,振幅/相位,反饋等信號
力學模式:輕敲或接觸模式下的力曲線測試
Dual ACTM:在成像和諧波測量時提供多頻率驅(qū)動和分析
壓電力顯微鏡(Piezoresponse Force Microscopy):對壓電材料提供高靈敏度、高偏壓的無干擾測量
靜電力顯微鏡(Electric Force Microscopy, EFM)
掃描開爾文顯微鏡(Scanning Kelvin Probe Microscopy, SKPM)
磁力顯微鏡(Magnetic Force Microscopy,MFM)
納米刻蝕
納米操縱
頻率調(diào)制(Frequency Modulation)
可選模式
ORCA模塊-實現(xiàn)導電AFM:在恒定電壓下通過測試電流實現(xiàn)電學表征
掃描隧道顯微鏡
blueDriveTM光熱激發(fā)模塊
iDriveTM磁力激發(fā)液相成像模塊
能帶激勵(Band EXcitation)物性測量模塊
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