零位穩(wěn)定:所有涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位,可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提。一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后,可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位不漂移,確保準(zhǔn)確測(cè)量。
無需校準(zhǔn):多數(shù)涂層測(cè)厚儀除了校零外,還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測(cè)量某一范圍厚度,要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣,而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效,增大系統(tǒng)誤差。尼克斯涂層測(cè)厚儀可以滿足全量程范圍內(nèi)數(shù)值準(zhǔn)確
溫度補(bǔ)償:涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù),以保證不同溫度下的測(cè)量精度。
紅寶石探頭:探頭接觸點(diǎn)的耐磨性直接影響測(cè)量的精度。普通金屬接觸探頭,其表面磨損后會(huì)帶來很大的誤差。
的直流采樣技術(shù):使得測(cè)量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有*的和提高。
標(biāo)準(zhǔn):符合ISO 2178,2360,2808及ASTM B 499,D7091標(biāo)準(zhǔn)
QNix®4200可測(cè)量磁性金屬表面非磁性涂鍍層厚度(Fe)。
(其中QNix®4200P、QNix®4200P5、采用有線分體型設(shè)計(jì),測(cè)量方便、穩(wěn)定、準(zhǔn)確,探頭連接線堅(jiān)固耐用,還可滿足一些狹小空間的測(cè)量。探頭線和探頭可更換)
三、技術(shù)參數(shù):
測(cè)量范圍
Fe:0-3000或0-5000μm
顯示范圍
0-99.9μm:0.1μm
100-999μm:1μm
≥1mm:0.01mm
精度
±(2+3%)μm≤2000μm
±(2+5%)μm>2000μm
小測(cè)量面積
Fe:10×10mm²,NFe:6×6mm²
小曲率半徑
凸半徑:5mm,凹半徑:25mm
基體
Fe:0.2mm,NFe:0.05mm
測(cè)量溫度范圍
-10℃-60℃
溫度補(bǔ)償范圍
0℃-50℃
分體型連接線長(zhǎng)度
1m
電源
2×1.5V AA堿性電池
尺寸
100×60×27mm
重量(含電池)
一體型:105g,分體型:14